Dabóczi Tamás, Dobrowiecki Tadeusz, Pálfi Vilmos, Péceli Gábor, Renczes Balázs, Sujbert László, Virosztek Tamás

Mérés- és adattudomány

Válogatott fejezetek


A módszer alkalmazása A/D konverterek tesztelésére

A ML módszer alkalmazása analóg-digitális átalakítók tesztelésére nem triviális. Az erre a célra kidolgozott modell szerint a gerjesztés egy zajjal terhelt szinuszjel, az additív zaj normális eloszlást követ, spektrálisan pedig fehérnek tekintendő. A zajminták korrelálatlansága fontos az együttes sűrűségfüggvény felírása szempontjából. Az A/D átalakító modellje egy ideális mintavevő-tartó egység és egy nemideális kvantáló. Noha az eredetileg publikált cikk [5.12] a mintavételezést ideálisnak tekinti, ez a megközelítés meghaladható: a modell kiterjesztésével az apertúra jitter is figyelembe vehető, lásd [5.41]. A nemideális kvantáló a kódváltási szintjei segítségével írható le. A mintavételezett és kvantált zajos szinuszjel a mérési rekord, amely alapján az A/D átalakító és a mérőjel paraméterei egyaránt megbecsülhetők. A következő bekezdésekben igyekszünk bemutatni a ML becslés alapján történő A/D tesztelés folyamatát: a modell kvantitatív leírásától kezdve a becslési probléma megoldásán át a felmerülő kihívásokig és az azokra adott válaszokig.

Mérés- és adattudomány

Tartalomjegyzék


Kiadó: Akadémiai Kiadó

Online megjelenés éve: 2020

ISBN: 978 963 454 379 4

Hivatkozás: https://mersz.hu/meres-es-adattudomany//

BibTeXEndNoteMendeleyZotero

Kivonat
fullscreenclose
printsave