Válts MeRSZ+ -ra!

MeRSZ online
okoskönyvtár

Több száz tankönyv egy helyen.
Online. Bárhol. Bármikor.

Záray Gyula (szerk.)

Az elemanalitika korszerű módszerei

9.8. Irodalom

[1] Bambynek, W. — Crasemann, W. — Fink, R. W. — Freund, H. U. — Mark, H. — Swift, C. D. — Price, R. E. — Rao, P. V.: Rev. Mod. Phys. 44, 716 (1972).
[2] Kramers, H. A.: Philos. Mag. 46, 836, (1923).
[3] Aiginger, H. — Wobrauschek, P. — Brauner, C.: Nucl. Instrum. Methods 120, 541 (1974).
[4] Ryon, R. W. — Zahrt, J. D. — Wobrauschek, P. — Aiginger, H.: Adv. X-ray Anal. 25, 63 (1982).
[5] Gibbon, P. — Förster, E.: Plasma Phys. Control. Fusion 38, 769 (1996).
[6] Raksi, F. — Wilson, K. R. — Jiang, Z. — Ikhlef, A. — Cote, C. Y. — Kieffer, J. C.: J. Chem. Phys. 104, 6066 (1996).
[7] Guo, T. — Spielmann, C. — Walker, B. C. — Barty, C. P. J.: Rev. Sci. Instrum. 72, 41 (2001).
[8] Winick, H. — Doniach, S. (Eds.): Synchrotron Radiation Research, Plenum, New York 1980.
[9] Onuki, H. — Elleaume, P.: Undulators, wigglers and their applications, Taylor & Francis, 2003.
[10] Janssens, K. H. A. — Adams, F. C. V. — Rindby, A. (Eds.): Microscopic X-Ray Fluorescence Analysis. Wiley, Chichester 2000.
[11] Tsuji, K. — Injuk, J. — Van Grieken, R. E. (Eds.): X-ray spectrometry: recent technological advances. Wiley, Chichester 2004.
[12] Nagy, L. Gy.: Radiokémia és izotóptechnika, Tankönyvkiadó, Budapest 1983.
[13] Van Grieken, R. E. — Markowicz A. A. (Eds.): Handbook of X-Ray Spectrometry, Marcel Dekker, New York 1993.
[14] Van Espen, P. — Janssens, K.: Spectrum Evaluation. In: Van Gieken, R. E. — Markowicz, A. A. (Eds.): Handbook of X-ray spectrometry. Marcel Dekker, New York 1993.
[15] Van Espen, P. — Janssens, K. — Nobels, J.: Chemom. Intell. Lab. Syst. 1, 109 (1986).
[16] Campbell, J. L. — Maxwell, J. A.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 129, 297 (1997).
[17] Van Espen, P. — Lemberge, P.: Adv. X-Ray Anal. 43, 560 (2000).
[18] Vekemans, B. — Janssens, K. — Vincze, L. — Adams, F. — Van Espen, P.: X-Ray Spectrom. 23, 278 (1994).
[19] Tertian, R. — Claisse, P.: Principles of Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis. Heyden, London 1982.
[20] Van Dyck, P. M. — Török, S. B. — Van Grieken, R. E.: Anal. Chem. 58, 1761 (1986).
[21] Wegrzynek, D. — Holynska, B. — Pilarski, T.: X-Ray Spectrom. 22, 80 (1993).
[22] Domi, N.: X-Ray Spectrom. 21, 163 (1992).
[23] Szalóki, I.: X-Ray Spectrom. 20, 297 (1991).
[24] Wegrzynek, D. — Markowicz, A. — Chinea-Cano, E. — Bamford, S.: X-Ray Spectrom. 32, 317 (2003).
[25] Fink, R. W. — Jopson, R. C. — Mark, H. — Swift, C. D.: Rev. Mod. Phys. 38, 513 (1966).
[26] Hubbell, J. H.: Int. J. Appl. Radiat. Isot. 33, 1269 (1982).
[27] Leroux, J. — Thinh, T. P.: Revised Tables of X-Ray Mass Attenuation Coefficients. Claisse Scientific Corporation, Québec 1977.
[28] Criss, J. W. — Birks, L. S.: Anal. Chem. 40, 886 (1968).
[29] Afonin, V. P. — Finkelshtein, A. L. — Borkhodoev, V. J. — Gunicheva, T. N.: X-Ray Spectrom. 21, 69 (1992).
[30] Wang, Y. Z.: X-Ray Spectrom. 22, 352 (1993).
[31] Szalóki, I. — Somogyi, A. — Braun, M. — Tóth, A.: X-Ray Spectrom. 28, 399 (1999).
[32] Borkhodoev, V. Ya.: X-Ray Spectrom. 31, 209 (2002).
[33] Bos, M. — Vrielink, J. A. M.: Anal. Chim. Acta 373, 291 (1998).
[34] Criss, J. W. — Birks, L. S. — Gilfrich, J. V.: Anal. Chem. 50, 33 (1978).
[35] Bildrey, D. B. — Bogert, G. R. — Leyden, D. E. — Harding, A. R.: X-Ray Spectrom. 17, 3 (1988).
[36] Chang, L. — Wittry, D. B.: Microbeam Anal. 3, 23 (1994).
[37] Wegrzynek, D. — Markowicz, A. — Chinea-Cano, E.: X-Ray Spectrom. 32, 119 (2003).
[38] Bacsó, J. — Pázsit, Á. — Somogyi, A.: Energy dispersive X-ray fluorescence analysis. In: Vértes, A. — Nagy, S. — Süvegh, K. (Eds.): Nuclear Methods in Mineralogy and Geology, Techniques and Applications. Plenum, New York 1998.
[39] Willis, J. P. — Lachance, G. R.: X-Ray Spectrom. 33, 181 (2004).
[40] Vincze, L. — Somogyi, A. — Osán, J. — Vekemans, B. — Török, S. — Janssens K. — Adams F.: Anal Chem. 74, 1128 (2002).
[41] Vincze, L. — Janssens, K. — Adams, F.: Spectrochim. Acta 48B, 553 (1993).
[42] Vincze, L. — Janssens, K. — Rivers, M. L. — Jones, K. W. — Adams, F.: Spectrochim Acta. 50B, 127 (1995)
[43] Vincze, L. — Janssens, K. — Vekemans, B. — Adams, F.: J. Anal. At. Spectrom. 14, 529 (1999).
[44] Compton, A. H.: Philos. Mag. 45, 1121 (1923).
[45] Yoneda, Y. — Horiuchi, T.: Rev. Sci. Instrum. 42, 1069 (1971).
[46] Aiginger, H. — Wobrauschek, P.: Nucl. Instrum. Methods 114, 157 (1974).
[47] Aiginger, H. — Wobrauschek, P.: Anal. Chem. 47, 852 (1975).
[48] Knoth, J. — Schwenke, H.: Fresenius’ Z. Anal. Chem. 291, 200 (1978).
[49] Schwenke, H. — Knoth, J.: Nucl. Instrum. Methods 193, 239 (1982).
[50] Becker, R. S. — Golovchenko, J. A. — Patel, J. R.: Phys. Rev. Lett. 50, 153 (1983).
[51] Kumakhov, M. A.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 48, 283 (1990).
[52] Rindby, A. — Janssens, K. H. A. – : In: Van Grieken, R. — Markowicz, A. A. (Eds.): Handbook of X-Ray Spectrometry 2nd ed. Marcel Dekker, New York-Basel, 2002. pp 631–717.
[53] Jentzsch, F.: Z. Physik 30, 268 (1929).
[54] Wolter, H.: Ann. Phys. Lpz. 10, 94 (1952).
[55] Wolter, H.: Ann. Phys. Lpz. 10, 286 (1952).
[56] Kirkpatrick, R. — Baez, J.: J. Opt. Soc. Am. 38, 766 (1948).
[57] Thompson, P. L. — Harvey, J. E.: Opt. Engineering 39, 1683 (2000).
[58] Bertin, E. P.: Principles and Practice of Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis 2nd ed. Plenum Press, New York 1988.
[59] Klockenkämper, R.: Total-reflection X-Ray Fluorescence Analysis. Wiley-Interscience, New York, 1997.
[60] Kregsamer, P. — Streli, C. — Wobrauschek, P. – : In: Van Grieken, R. E. — Markowicz, A. A. (Eds): Handbook of X-Ray Spectrometry 2nd ed. Marcel Dekker, New York-Basel, 2002. pp 559–602
[61] Bedzyk, M. J. — Bommarito, G. M. — Schildkraut, J. S.: Phys, Rev. Lett. 62, 1376 (1989).
[62] Streli, C. — Bauer, V. — Wobrauschek, P.: Adv. X-ray Anal. 39, 771 (1997).
[63] Meinschad, T. — Streli, C. — Wobrauschek, P. — Eisenmenger-Sittner, C.: Spectrochim. Acta Part B 58, 2069 (2003).
[64] Iida, A.: Adv. X-ray Anal. 34, 23 (1991).
[65] Streli, C. — Wobrauschek, P. — Kregsamer, P. — Pepponi, G. — Pianetta, P. — Pahlke, S. — Fabry, L.: Specrtochim. Acta B 56B, 2085 (2001).
[66] Streli, C. — Aiginger, H. — Wobrauschek, P.: Spectrochim. Acta 48B, 163 (1993).
[67] hellin, D. — de gendt, S. — Valckx, N. — mertens, P. W. — Vinckier, C.: Spectrochim. Acta 61B, 496 (2006).
[68] szoboszlai, N. — polgári, Z. — mihucz, V. G. — záray, G.: Anal. Chim. Acta 633, 1 (2009).
[69] von bohlen, A.: Spectrochim. Acta 64B, 821 (2009).
[70] pashkova, G. V. — revenko, A. G.: Appl. Spectrosc. Rev. 50, 443 (2015).
[71] Varga, I. — von Bohlen, A. — Klockenkämper, R. — Záray, G.: Microchem. J. 67, 265 (2000).
[72] Petterson, R. P.: Spectrochim. Acta 53B, 101 (1998).
[73] Varga, I. — Rierpl, E. — Tusai, A.: J. Anal. At. Spectrom. 14, 881 (1999).
[74] Kröpfl, K. — Záray, G. — Ács, É.: Spectrochim. Acta 58B, 2177 (2003).
[75] Mages, M. — Ovari, M. — von Tumpling, W. — Kröpfl, K.: Anal. Bioanal. Chem. 378, 1095 (2004).
[76] Bayer, H. — von Bohlen, A. — Klockenkämper, R. — Klockow, D.: Mikrochim. Acta 119, 167 (1995).
[77] Varga, I. — von Bohlen, A. — Záray, G. — Klockenkämper, R.: J. Trace Microprobe Tech. 18, 293 (2000).
[78] Nagy, I. B. — Varga, I. — Hudecz, F.: Anal. Biochem. 287, 17 (2000).
[79] Boeykens, S. P. — Vazquez, C. — Temprano, N. — Rosen, M.: Carbohydrate Polym. 55, 129 (2004).
[80] Varga, I. — Szebeni, Á. — Szoboszlai, N. — Kovács, B.: Anal. Bioanal. Chem. 383, 476 (2005).
[81] Klockenkämper, R. — von Bohlen, A. — Moens, L. — Devos, W.: Spectrochim. Acta 48B, 239 (1993).
[82] Moens, L. — Devos, W. — Klockenkämper, R. — von Bohlen, A.: J. Trace Microprobe Tech. 13, 119 (1995).
[83] Prange, A. — Schwenke, H.: Adv. X-ray Anal. 35B, 899 (1992).
[84] Neumann, C. — Eichinger, P.: Spectrochim. Acta 46B, 1369 (1991)].
[85] Yamagami, M. — Ikesita, A. — Onizuka, Y. — Kojima, S. — Yamada, T.: Spectrochim. Acta 58B, 2079 (2003).
[86] Fabry, L. — Pahlke, S. — Kotz, L. — Adachi, Y. — Furukawa, S.: Adv. X-ray Chem. Anal. Jpn. 26s, 19 (1995).
[87] Knöchel, A. — Petersen, W. — Tolkien, G.: Nucl. Instrum. Methods 208, 659 (1983).
[88] Jones, K. W. — Kwiatek, W. M. — Gordon, B. M. — Hanson, A. L. — Pounds, J. G. — Rivers, M. L. — Sutton, S. R. — Thompson, A. C. — Underwood, J. H. — Giaque, R. D. — Wu, Y.: Adv. X-ray Anal. 31, 59, (1988).
[89] Jones, K. W. — Gordon, B. M. — Schidlovsky, G. — Spanne, P. — Dejun, X. — Bockman, R. S. — Saubermann, A. J. – In: Williams, D. B. — Indgram, P. — Michels, J. R. (Eds.): Microbeam Analysis. San Francisco Press, San Francisco 1990.
[90] Thompson, A. C. — Wu, Y. — Underwood, J. H. — Barbee, T. W.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. A 255, 603 (1987).
[91] Wu, Y. — Thompson, A. C. — Underwood, J. H. — Giauque, R. D. — Chapman, K. — Rivers, M. L. — Jones, K. W.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. A 291, 146 (1990).
[92] Saitoh, K. — Inagawa, K. — Kohra, K. — Hayashi, C.: Rev. Sci. Instrum. 60, 1519 (1989).
[93] Snigirev, A. — Kohn, V. — Snigireva, A. — Lengerer, B.: Nature 384, 49 (1996).
[94] Carpenter, D. — Lawson, R. L. — Taylor, M. A. — Poirier, D. E. — Morgan, K. Z. — Haney, G. W. – In: Newbury, D. E. (Ed.): Microbeam Analysis. San Francisco Press, San Francisco 1988.
[95] Attaelmanan, A. — Larsson, S. — Rindby, A. — Voglis, P.: Rev. Sci. Instrum. 65, 7 (1994).
[96] Kumakhov, M. A. — Komarov, F. F.: Phys. Rev. 191, 289 (1990).
[97] Bjeoumikhov, A. — Langhoff, N. — Wedell, R. — Beloglazov, V. — Lebedev, N. — Skibina, N.: X-Ray Spectrom. 32, 172 (2003).
[98] Török, S. — Osán, J. — Vincze, L. — Alföldy, B. — Kerkápoly, A. — Vajda, N. — Pérez C. A. — Falkenberg G.: J. Anal. At. Spectrom. 18, 1202 (2003).
[99] Kanngiesser, B.: Spectrochim. Acta 58B, 609 (2003).
[100] Havrilla, G. J. — Miller, T.: Powder Diffr. 19, 119 (2004).
[101] Osán, J. — Szalóki, I. — Ro, C.-U. — Van Grieken, R.: Mikrochim. Acta 132, 349 (2000).
[102] Ro, C.-U. — Osán, J. — Szalóki, I. — de Hoog, J. — Worobiec, A. — Van Grieken, R.: Anal. Chem. 75, 851 (2003).
[103] Van Malderen, H. — Hoornaert, S. — Injuk, J. — Przybylowicz, W. J. — Pineda, C. A. — Prozesky, V. M. — Van Grieken, R.: X-Ray Spectrom. 30, 320 (2001).
[104] Török, S. — Sándor, S. — Xhoffer, C. — Van Grieken, R. — Jones, K. W. — Sutton, S. R. — Rivers, M. L.: Adv. X-ray Anal. 35, 1183 (1992).
[105] Markowicz, A. A. — Van Grieken, R. E.: Quantification in XRF analysis of intermediate-thickness samples. In: Van Gieken, R. E. — Markowicz, A. A. (Eds.): Handbook on X-ray spectrometry. Marcel Dekker, New York 2002.
[106] Lankosz, M. — Pella, P. A.: X-Ray Spectrom. 26, 347 (1997).
[107] Danesi, P. R. — Markowicz, A. — Chinea-Cano, E. — Burkart, W. — Salbu, B. — Donohue, D. — Ruedenauer, F. — Hedberg, M. — Vogt, S. — Zahradnik, P. — Ciurapinski, A.: J. Environ. Radioact. 64, 143 (2003).
[108] Török, S. — Osán, J. — Vincze, L. — Kurunczi, S. — Tamborini, G. — Betti, M.: Spectrochim. Acta 59B, 689 (2004).
[109] Ding, X. — Gao, N. — Havrilla, G. J.: Monolithic polycapillary X-ray optics engineered to meet a wide range of applications. In: MacDonald, C. — Khounsary A. M. (Eds.): Advances in laboratory-based X-ray sources and optics SPIE, 2000. [Proc. SPIE 4144, 174 (2000).]
[110] Kanngiesser, B. — Malzer, W. — Reiche I.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 211, 259 (2003).
[111] Janssens, K. — Proost, K. — Falkenberg, G.: Spectrochim. Acta 59B, 1637 (2004).
A fejezet részben az OTKA (T 047047) és az MTA (BO/00370/02) támogatásával készült.
Az elemanalitika korszerű módszerei

Tartalomjegyzék

Kiadó: Akadémiai Kiadó

Online megjelenés éve: 2016

ISBN: 978 963 059 850 7

Kémia

Az elemek minőségi és mennyiségi meghatározására kifejlesztett műszeres analitikai módszerek nélkülözhetetlen eszközei a természettudományi kutatásoknak és a minőségellenőrzésnek az ipar és a mezőgazdaság különböző területein. Segítségükkel nyerhetünk információt különböző anyagrendszerek (pl. talajok, felszíni vizek, légköri aeroszolok, meteoritok, fémötvözetek és nagytisztaságú fémek, kerámiák, élelmiszerek, biofilmek, vér- és vizeletminták stb.) elemösszetételéről. A nagyteljesítményű műszeres analitikai technikák több esetben fg/g - pg/g kimutatási határokkal és 5-8 koncentráció nagyságrendet átfogó munkatartományokkal jellemezhetők, azaz lehetővé teszik a fő-, mellék- és nyomalkotók egyidejű meghatározását akár 70 elem vonatkozásában is. Az ismertetett módszerek közül a felhasználó analitikusnak kell eldöntenie, hogy az adott anyagrendszer vizsgálatához roncsolásos vagy roncsolásmentes módszert, és ehhez mely mintaelőkészítési technikát alkalmaz. Ezen döntések meghozatalához nyújt a könyv megfelelő hátteret, ismertetve a különböző módszerek elméleti alapjait és gyakorlati példákkal segítve a legmegfelelőbb módszer kiválasztását.

A könyv egyaránt ajánlható egyetemi hallgatóknak, doktoranduszoknak és az analitikai laboratóriumokban dolgozó szakembereknek.

Hivatkozás: https://mersz.hu/zaray-az-elemanalitika-korszeru-modszerei//

BibTeXEndNoteMendeleyZotero
Kivonat
fullscreenclose
printsave